Microscopio metalográfico de tipo avanzado, vertical, con tableta computarizada
El microscopio metalográfico de posición elevada tipo tableta PMM-3LIS (campo claro/oscuro) ha sido desarrollado para satisfacer las exigencias de la industria de los semiconductores, la fabricación de obleas de silicio, la industria de la tecnología de la información y la industria metalúrgica. Como microscopio metalográfico de gama alta destinado a los usuarios, les permite experimentar su rendimiento excepcional y puede aplicarse ampliamente en la inspección de lubricantes, semiconductores, pantallas planas de diodos orgánicos emisores de luz (FPD), embalajes de circuitos, sustratos de circuitos, materiales, piezas fundidas/metálicas/cerámicas y moldes de precisión.